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X光繞射儀
      電磁波X光的波長範圍為10^-2～10²埃，其與原子尺度相同。
      利用特性X光入射至晶體，晶體是由原子或原子團在空間中以規則排列而成的固體，會被原子散射，當存在某種相位關係(相位差)兩個或兩個以上散射波相互疊加後，就會產生繞射現象。 
      X光繞射儀就是利用偵測器收集繞射訊號強度，得到待測樣品的繞射圖譜(Diffraction Pattern) ，此繞射圖譜一般來說是以繞射強度對繞射角作圖，將此繞射圖譜經過結晶面標定過程後，便可得到待測樣品的結晶結構。